BTL Polska Sp. z o.o.
BTL Polska Sp. z o.o.
Adres: Leonidasa 49, 02-239 Warszawa
Telefon: 22 667 02 76
WWW: https://www.btlnet.pl/

Podgląd wizytówki
INTIMEX
INTIMEX sp. z o.o. sp. k.
Adres: Egejska 19/39, 02-764 Warszawa
Telefon: +48 22 6687465
WWW: https://intimex.com.pl/

Podgląd wizytówki
Mindray
Mindray Medical Poland
Adres: Cybernetyki 9, 02-677 Warszawa
Telefon: 22 463 80 80
WWW: www.mindray.com

Podgląd wizytówki
Dräger Polska
Dräger Polska Sp. z o.o.
Adres: Posag 7 Panien 1, 02-495 Warszawa
Telefon: 22 243 06 58
WWW: https://www.draeger.com/pl_pl/Home

Podgląd wizytówki
United Imaging Healthcare
United Imaging Healthcare Poland
Adres: Żwirki i Wigury 14, 02-092 Warszawa
Telefon: +48 532 792 666
WWW: https://www.united-imaging.eu/pl/home

Podgląd wizytówki
SONOSCAPE MEDICAL CORP.
SONOSCAPE MEDICAL CORP.
Adres: Guangming District, Guangdong, 518107 Shenzhen
Telefon: +48 784 894 276
WWW: www.sonoscape.com

Podgląd wizytówki
ENDOELEKTRONIK.PL SP. Z O.O. SP.K.
ENDOELEKTRONIK.PL SP. Z O.O. SP.K.
Adres: ul. Borkowa 12, 05-840 Brwinów
Telefon: 22 758 51 48
WWW: https://endoelektronik.pl/

Podgląd wizytówki

Quantitative MRI (qMRI) System Phantom - szczegóły oferty katalogowej


HIMTECH Norbert Wasilewski
HIMTECH Norbert Wasilewski
Nazwa firmy: HIMTECH Norbert Wasilewski
Adres: Woziwody 8, 02-908 Warszawa
Telefon: 602 108 829
NIP: 521-177-59-99
REGON: 017327357
KRS:
Przedstawiciel: Inż. Norbert Wasilewski (Senior)

Jednoosobowa działalność gospodarcza istniejąca od 2002 roku. Firma zajmuje się sprzedażą oprogramowania i wyposażenia do testów kontroli jakości w analogowej i cyfrowej radiografii ogólnodiagnostycznej, mammografii, fluoroskopii i fluorografii, radiografii dentystycznej, tomografii komputerowej (CT) i stomatologicznej tomografii komputerowej wiązki stożkowej.

Himtech Norbert Wasilewski jest wyłącznym przedstawicielem firm: Artinis Medical System B.V. (fantomy do kontroli jakości w mammografii i systemy NIRS) i Euromechanics saveRay GmbH (fantomy do kontroli jakości), a za pośrednictwem Euromechanics saveRay ma dostęp do wszystkich zachodnioeuropejskich i amerykańskich producentów oryginalnego wyposażenia i oprogramowania do wspomagania jakości w radiografii.

Himtech Norbert Wasilewski projektuje i produkuje także nietypowe, proste i tanie filtry, fantomy i uchwyty do fantomów oraz wykonuje przeglądy techniczne i wzorcowanie urządzeń do testów podstawowych kontroli jakości w radiografii a także prowadzi indywidualne szkolenia z kontroli jakości w placówkach radiologicznych służby zdrowia.


Fantomy do kontroli jakości rezonansu magnetycznego HPD High Precision Devices Quantitative MRI (qMRI) System Phantom
Quantitative MRI (qMRI) System Phantom
Producent: HPD High Precision Devices
Model: Quantitative MRI (qMRI) System Phantom
Kategoria: Fantomy do kontroli jakości rezonansu magnetycznego

Quantitative MRI (qMRI) System Phantom

Najbardziej wszechstronny fantom do ilościowego MRI (qMRI) do używania w szerokim zakresie zastosowań
Fantom składa się z plastikowej kuli rozmiaru głowy zawierającej znaczniki do pomiarów referencyjnych oraz 100 pojemników ze środkami kontrastowymi zawierających 42 środki kontrastowe. System Phantom może być zmodyfikowany do potrzeb konkretne aplikacji a składniki są zawsze identyfikowane jak NIST, zapewniając wyjątkowe narzędzie do standaryzacji ilościowej skanerów MRI podczas wykonywania różnych procedur diagnostycznych.

Najważniejsze cechy:

- Pojemniki z kontrastem, kule 20 mm :14 kule T1 spread (20ms-2s), 14 kule T2 spread (8ms-800ms), 14 kule gęstości protonowej
- Prawdziwa wymiarowa i pozycyjna dokładność 0,1 mm dla wszystkich elementów
- Wkładka rozdzielczości (wymiary otworów od 1 mm do 0,4 mm w rozstawie 1,2 mm)
- Kliny do profilowania warstwy (dwa 80 mm x 8 mm ustawione pod kątem 10 °)
- Fizyczny i MR klucze do precyzyjnego określenia adjustacji fantomu (czytelne numery seryjne fizyczne i MR)
- NIST weryfikowalne dla T1, T2, oraz właściwości wymiarowych
- Elastyczna konstrukcja umożliwia modyfikacje

qMRI System Phantom ocenia następujące cechy MRI:
jednorodność B1, jednorodność B0, liniowość geometryczna, gradient amplitudy, profil warstwy, dokładność pozycjonowania warstwy, znacznik dokładności, dryft częstotliwości, rozdzielczość, SNR, dokładność i precyzję pomiarów T1 i T2


Oferta
Waluta: PLN